硅片检测去哪里做?百检网材料检测中心可提供硅片测试服务，为CMA资质认证机构，高新技术企业，针对产品研发、质量控制中遇到的问题，提供成分检测、产品检测、产品检测、仪器检测等综合解决方案，仪器齐全，科研团队强大，7-15个工作日可出具检测报告，支持扫码查询真伪，全国上门取样、寄样检测服务，检测周期短、检测费用低、检测数据科学准确!

测试周期：7-15个工作日

测试费用：工程师根据客户检测需求以及实验复杂程度制定实验方案进行报价。

硅片检测范围

单晶硅片，太阳能硅片，光伏硅片，半导体硅片，切割硅片，镀膜硅片，清洗硅片，抛光硅片等。

硅片检测项目

电阻率测试，翘曲度测试，厚度测试，表面粗糙度测试，燃烧测试，弯曲度测试，平整度测试，绒面反射率测试，碳氧含量检测，压电系数测试，ECV测试，负载测试，硬度测试，抗弯强度测试，晶圆测试，表面杂质测试，表面有机物测试，少子寿命测试，颗粒度测试，表面接触角测试等。(更多项目需求，您可咨询在线实验室工程师，为您详细解答。)

百检网测试报告有哪些作用?可以帮您解决哪些问题?

1、销售使用。(销售自己的产品，出具第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量)

2、研发使用。(研发过程中，遇到一些比较棘手的问题，通过检测报告数据来解决问题，从而缩短研发周期，降低研发成本)

3、改善产品质量。(通过对比检测数据，发现自身产品问题所在，提高产品质量，降低生产成本)

4、科研论文数据使用。

5、竞标，投标使用(百检网检测周期比较短，检测费用低，认可度比较高，特别适合投标使用)

硅片检测标准

GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试　非接触微波反射光电导衰减法

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术　基于SOI硅片的MEMS工艺规范

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试自动非接触扫描法

GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定　二次离子质谱法

GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

GB/T 30701-2014 表面化学分析　硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试　自动非接触扫描法

GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法　非接触涡流法

GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定　扩展电阻探针法

GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法